Tes­ted for success

Huip­pu­luo­kan tuot­tei­ta raken­taes­sa ei voi oikoa.

Me Hei­näl­lä olem­me ylpei­tä voi­des­sam­me tukea tei­tä mat­kal­lan­ne hui­pul­le maa­il­man joh­ta­vil­la elekt­ro­niik­ka­teol­li­suu­den tes­taus­lait­teil­la.

Suo­ma­lai­sia high-tech tuot­tei­ta

Hei­na Ltd. on suo­ma­lai­nen vuon­na 1998 perus­tet­tu yri­tys. Olem­me ylpei­tä voi­des­sam­me tar­jo­ta asiak­kail­lem­me inno­va­tii­vi­sia, CE-hyväk­syt­ty­jä tes­taus­lait­tei­ta, hyvää hen­ki­lö­koh­tais­ta pal­ve­lua ja luo­tet­ta­vaa kump­pa­nuut­ta. Pää­tuot­tei­tam­me, Drop Tes­ter DT2000 ”n”-sarja, Drop Tes­ter DT2000s, Drop Tes­ter DT3000s, Tumble Tes­ter II, joi­ta käyt­tä­vät kym­me­net elekt­ro­niik­ka- ja lää­ke­teol­li­suu­den val­mis­ta­jat ympä­ri maa­il­maa.

Olen käyt­tä­nyt HEI­NÄn tes­te­rei­tä aiem­min ja täl­lä het­kel­lä nii­tä on käy­tös­sä myös AINA Wire­les­sin labo­ra­to­rios­sa. Emme voi­si olla tyy­ty­väi­sem­piä itse tes­te­rei­hin ja saa­maam­me pal­ve­luun. Ne anta­vat meil­le vah­van luot­ta­muk­sen tuot­tei­dem­me laa­tuun.

AINA Wire­less Inc. / Pasi Aura­nen, CTO

I con­ti­nue to be impres­sed with the qua­li­ty of your con­struc­tion

Kevin King, Elect­ro- Mec­ha­nical Engi­neer / Apku­do LLC, USA

Our main pro­ducts

Drop Tes­ter DT2000n pudo­tus­tes­taus­lai­te

Drop Tes­ter DT2000n on tar­koi­tet­tu eri­lais­ten pien­ten esi­nei­den rik­kou­tu­mi­sen tes­taa­mi­seen aina 5 kg saak­ka (10 kg EW- ja EWW-mal­leil­la). Omi­nai­suuk­siin kuu­luu PC-lait­teis­to ja ohjel­mis­to, jot­ka tuke­vat nyky­ai­kai­sia pudo­tus­tes­taus­pro­ses­se­ja. Drop Tes­ter n‑sarja mah­dol­lis­taa ennal­ta mää­ri­tel­ty­jen tes­ti­pro­to­kol­lien luo­mi­sen ja käy­tön, mikä hel­pot­taa tes­tien tois­tet­ta­vuut­ta, yhte­näis­tää rapor­toin­tia ja mini­moi käyt­tä­jä­vir­heet. Etä­seu­ran­ta on mah­dol­lis­ta pil­vi­pal­ve­lun avul­la. Lai­te on suun­ni­tel­tu sekä ohjat­tuun että vapaa­seen pudo­tus­tes­tauk­seen. Sil­lä voi­daan suo­rit­taa stan­dar­doi­tu­ja tes­te­jä stan­dar­dien IEC 60068–2‑31, IEC 60601–1, IEC 62368–1, ISO 11608–1 ja MIL-STD-810H, mene­tel­mä 516.8 mukai­ses­ti. Pudo­tus­kor­keus on 500‑2000 mm (vaih­toeh­toi­ses­ti kas­va­tet­ta­vis­sa jopa 5000 mm asti).

Drop Tes­ter DT2000s pudo­tus­tes­taus­lai­te

Drop Tes­ter DT2000s on tar­koi­tet­tu eri­lais­ten pien­ten esi­nei­den rik­kou­tu­mi­sen tes­taa­mi­seen aina 5 kg saak­ka (10 kg EW- ja EWW-mal­leil­la). Lai­te on suun­ni­tel­tu sekä ohjat­tuun että vapaa­seen pudo­tus­tes­tauk­seen. Sil­lä voi­daan suo­rit­taa stan­dar­doi­tu­ja tes­te­jä stan­dar­dien IEC 60068–2‑31, IEC 60601–1, IEC 62368–1, ISO 11608–1 ja MIL-STD-810H, mene­tel­mä 516.8 mukai­ses­ti. Pudo­tus­kor­keus on 500‑2000 mm (vaih­toeh­toi­ses­ti kas­va­tet­ta­vis­sa jopa 5000 mm asti).

Drop Tes­ter DT3000s pudo­tus­tes­taus­lai­te

Drop Tes­ter DT3000s ‑tes­ti­lai­tet­ta käy­te­tään eri­lais­ten pien­ten esi­nei­den rik­kou­tu­mi­sen tes­taa­mi­seen aina 5 kg saak­ka (10 kg EW- ja EWW-mal­leil­la). Lai­te on suun­ni­tel­tu ohjat­tuun ja vapaa­pu­do­tus­tes­tauk­seen. Sil­lä voi­daan suo­rit­taa stan­dar­doi­tu­ja tes­te­jä stan­dar­dien IEC 60068–2‑31, IEC 60601–1, IEC 62368–1, ISO 11608–1 ja MIL-STD-810H, mene­tel­mä 516.8 mukai­ses­ti. Pudo­tus­kor­keus on 500‑3000 mm (vaih­toeh­toi­ses­ti kas­va­tet­ta­vis­sa 5000 mm asti).

Tumbler Tes­ter II vapaa­pu­do­tus­tes­taus­lai­te

Tumble Tes­ter II ‑tes­taus­lai­tet­ta käy­te­tään eri­lais­ten pien­ten esi­nei­den rik­kou­tu­mi­sen tes­taa­mi­seen aina 1 kg saak­ka (5 kg EW- ja EWW-mal­leil­la). Lai­te on suun­ni­tel­tu tois­tu­vaan vapaa­pu­do­tus­tes­tauk­seen. Sil­lä voi­daan suo­rit­taa stan­dar­doi­tu­ja tes­te­jä stan­dar­dien IEC 60068–2‑31, IEC 60312–1 ja IEC 61558–1 mukai­ses­ti. Pudo­tus­kor­keu­det ovat 500 ja 1000 mm (vaih­toeh­toi­ses­ti kas­va­tet­ta­vis­sa 2000 mm asti).

Suur­no­peus­ku­vaus & lii­kea­na­lyy­si

Kor­kea­no­peus­ka­me­ra integroi­dul­la LED-valo-optiol­la on saa­ta­vil­la pudo­tus- ja pyö­ri­tys­tes­taus­lait­tei­siim­me. Valin­nai­nen Phan­tom-kor­kea­no­peus­ka­me­ra mah­dol­lis­taa käyt­tä­jäl­le kuvan sii­tä, mitä tapah­tuu iskun aika­na. Kame­ra tuo suur­ta lisä­ar­voa uuteen tes­taus­lait­te­seen

Jot­ta tuo­te­ke­hi­tyk­sel­le saa­tai­siin vie­lä­kin tar­kem­paa tie­toa, kan­nat­taa hyö­dyn­tää **TEMA Hei­na ‑lii­kea­na­lyy­sioh­jel­mis­toa**. TEMAn avul­la siir­ty­miä, pomp­pu­ja, väräh­te­ly­jä ja mui­ta poik­kea­mia voi­daan mita­ta kuvis­ta usko­mat­to­mal­la tark­kuu­del­la.